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无线充电纳米晶尺寸&瑕疵检测方案

发布日期:2020-09-02  【打印此页】  【关闭

    自从无线充电在2018年爆发以来,各大手机厂商都即将在新推出的机型上拥有无线充电的功能。无线充电行业的前景一片大好,实现无线充电主要采用的是纳米晶+线圈方案。纳米晶材料具有优异的磁学和物理力学性能,线圈的接收功率大、温升小、成本低。无线充电市场的兴起,对于纳米晶拉动起到一定作用。为了严格把控其产品质量,需要使用影像仪或定制化测量设备为其“把关”。

 

    基于无线充电纳米晶大批量检测及瑕疵检测需求,影像测量仪无法满足检测需求,海克斯康影像针对无线充电纳米晶材料检测难点推出了无线充电纳米晶尺寸和瑕疵检测设备。

 

设备概念图

 影像仪.jpg

无线充电纳米晶实物图

影像仪专机.jpg

设备尺寸:长:4150mm,宽:1200mm,高:1700mm。重复精度高。进行LCR检测时,通过压力传感器进行压力控制检测,可靠性高。

 

工作流程

 

    无线充电纳米晶尺寸&瑕疵检测方案检测速度快,3s即可完成一个产品的全部测量过程,检测效率远高于影像测量仪。方案采用优良部件进行检测:高像素工业相机、高精度镜头和探针、高速及高重复定位精度的转移及下料四轴机械手。灵活使用了滚筒收卷系统方便快捷地进行零件上料及回收空薄膜。先进行相机视觉尺寸检测,后拍照定位至探针测量站进行瑕疵检测,测量数据准确可靠。

 

    为了全自动高效的进行无线充电纳米晶尺寸和瑕疵检测,对其从双重方向严格把关,海克斯康影像所设计的无线充电纳米晶尺寸和瑕疵检测设备,为客户创造了巨大的价值,得到了客户的广泛认可!

    海克斯康影像不仅为客户提供全系列的复合式影像测量仪,还能根据客户需求研发推出不同行业的定制化设备,帮助客户“跃过”质量检测这一大关。

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